
2650系列高功率數字源表
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2650 系列高功率 SourceMeter SMU 儀器集精密電源、電流源、數字萬用表、任意波形發生器、電壓或電流脈沖發生器、電子負載和觸發控制器于一體,主要用于對高功率半導體器件進行I-V參數測試和特性分析,應用領域包括高功率器件的研發,可靠性測試,生產測試,針對的高功率器件主要有高亮度LED,功率半導體器件(主要是功率MOSFET和BJT雙極晶體管),DC-DC變換器,電池以及其他高功率電子材料,組件等。2651A 型具有高電流源功能和 1pA 分辨率,非常適用于高亮度 LED、功率半導體、直流-直流轉換器、電池、太陽能電池以及其他高功率材料和元器件檢定。2657A 型最適合檢定和測試高壓電子器件和功率半導體。
典型應用:
• 半導體材料和器件的特性分析;
• 電壓或電流的波形發生器;
• 電壓或電流的脈沖發生器;
• 精密的電源;
• 真實的電流源;
• 數字測量儀器;(DC V,DC I,電阻和功率);
• 精密電子負載
2651A:
• 源(Source)或阱(Sink)的能力:
—2000W的脈沖功率(±40V,±50A)
—200W的DC功率(±10V@±20A,±20V@±10A,±40V@±5A)
• 2臺并聯使用,可以產生±40A的直流或±100A的脈沖電流(最小脈寬100μs),2臺串聯使用,可以產生±80V的電壓;
• 測試功率MOSFET器件的導通阻抗RDSON的指標優于100μΩ;
• 可以輸出高的脈沖電流,以減少器件的自熱效應;
• 1pA的分辨率可以進行精密的非常低的漏電流測試;
• 1μs每點,18bit的采樣,可以對瞬態現象進行精確的特性分析;
• 1%-100%的脈沖占空比;
• 包括TSP Express特性測試軟件,Labview驅動;
• Keithley ACS測試軟件支持;
2657A:
• 源(Source)或阱(Sink)的能力:
—180W的DC或脈沖功率(±3000V@±20mA,±1500V@±120mA);
• 典型脈沖時間:3KV下15ms;1KV下5ms;
• 1fA的電流測量分辨率;
• 3KV下小于5pA的本底漂移;
• 測試晶體管和MOSFET的擊穿電壓
• 1μs每點,18bit的采樣,可以對瞬態現象進行精確的特性分析;
• 包括TSP Express特性測試軟件,Labview驅動;
•Keithley ACS測試軟件支持;
典型應用:
• 半導體材料和器件的特性分析;
• 電壓或電流的波形發生器;
• 電壓或電流的脈沖發生器;
• 精密的電源;
• 真實的電流源;
• 數字測量儀器;(DC V,DC I,電阻和功率);
• 精密電子負載
2651A:
• 源(Source)或阱(Sink)的能力:
—2000W的脈沖功率(±40V,±50A)
—200W的DC功率(±10V@±20A,±20V@±10A,±40V@±5A)
• 2臺并聯使用,可以產生±40A的直流或±100A的脈沖電流(最小脈寬100μs),2臺串聯使用,可以產生±80V的電壓;
• 測試功率MOSFET器件的導通阻抗RDSON的指標優于100μΩ;
• 可以輸出高的脈沖電流,以減少器件的自熱效應;
• 1pA的分辨率可以進行精密的非常低的漏電流測試;
• 1μs每點,18bit的采樣,可以對瞬態現象進行精確的特性分析;
• 1%-100%的脈沖占空比;
• 包括TSP Express特性測試軟件,Labview驅動;
• Keithley ACS測試軟件支持;
2657A:
• 源(Source)或阱(Sink)的能力:
—180W的DC或脈沖功率(±3000V@±20mA,±1500V@±120mA);
• 典型脈沖時間:3KV下15ms;1KV下5ms;
• 1fA的電流測量分辨率;
• 3KV下小于5pA的本底漂移;
• 測試晶體管和MOSFET的擊穿電壓
• 1μs每點,18bit的采樣,可以對瞬態現象進行精確的特性分析;
• 包括TSP Express特性測試軟件,Labview驅動;
•Keithley ACS測試軟件支持;
包括TSP Express特性測試軟件,Labview驅動;
Keithley ACS測試軟件支持;
Keithley ACS測試軟件支持;
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